Drastic Reduction of Track Formation Threshold and Enhanced Nuclear Interaction in Si Irradiated with keV-MeV C60 Ions
第26回「イオンビームによる表面・界面の解析と改質」特別研究会. 2025年11月28日-2025年11月29日.
NIMS著者
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作成時刻: 2025-12-03 03:12:37 +0900 更新時刻: 2025-12-03 03:12:37 +0900