HOME > 口頭発表 > 詳細TOF-SIMSを用いた高温環境下におけるSi-Al界面の観察(Observation of Si/Al interface in a hot environment using TOF-SIMS)著者渡邉 騎通, 間宮 広明, 阿部 冨士雄, 大久保雅隆, 北澤 英明. 会議名第76回応用物理学会秋季学術講演会発表年2015言語Japanese