HOME > Presentation > DetailTOF-SIMSを用いた高温環境下におけるSi-Al界面の観察(Observation of Si/Al interface in a hot environment using TOF-SIMS)渡邉 騎通, 間宮 広明, 阿部 冨士雄, 大久保雅隆, 北澤 英明. 第76回応用物理学会秋季学術講演会. 2015.NIMS author(s)MAMIYA, HiroakiABE, FujioKITAZAWA, HideakiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-19 03:49:36 +0900Updated at: 2017-07-10 22:13:52 +0900