試料上の電界強度を制御した新型対物レンズを搭載した光電子顕微鏡の開発
(Development of high energy XPEEM with new objective lens to control the electric field on specimen)
2nd International Symposium on Technologies and Applications of . 2005年02月01日-2005年02月03日. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 04:32:37 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:40:31 +0900