high throughput characterization of magnetic semiconductor thin films with a scanning squid microscope
(走査型squid顕微鏡による磁性半導体薄膜のハイスループット評価)
2001MRS fall mｅｅｔｉｎｇ. 2001年11月26日-2001年11月30日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2022-09-05 11:09:56 +0900 更新時刻: 2022-09-05 11:09:56 +0900