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非c軸配向Bi系超伝導体の走査SQUID顕微鏡による評価
(Characterization of non c-axis Oriented Bi-based Superconducting Thin Films by Scanning SQUID Microscopy)

著者有沢 俊一, S. Kawai, T. Kaneko, K. Endo.
会議名日本MRS年次大会
発表年2017
言語Japanese

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