HOME > Presentation > DetailオペランドKPFMによるナノスケール電位計測:全固体電池・半導体デバイス解析への応用(Nanoscale potential measurements by operando KPFM: Application to all-solid-state batteries and semiconductor devices)石田 暢之. 2026年 第87回 応用物理学会秋季学術講演会. September 08, 2026-September 11, 2026. InvitedNIMS author(s)ISHIDA, NobuyukiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2026-09-16 03:06:50 +0900 Updated at: 2026-09-16 03:06:50 +0900