走査電子顕微鏡による絶縁体基板上グラフェンの評価
(Analysis of graphene on insulator using scanning electron microscope)
第19回日本MRS学術シンポジウム. 2009.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:29:12 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:38:36 +0900