HOME > 口頭発表 > 書誌詳細UHV-TEMを用いた集束電子線によるナノドットアレイの作製と評価(Fabrication and Characterization of Nano-Dot Arrays with Focused Electron Beam using UHV-TEM)田中 美代子, 下条 雅幸, 竹口 雅樹, 三石 和貴, 古屋 一夫. 2004年(平成16年)春季 第51回応用物理学関係連合講演会. 2004.NIMS著者田中 美代子竹口 雅樹三石 和貴Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:59:55 +0900更新時刻: 2018-05-30 19:15:04 +0900