(Electrical resistance measurements of nanowire by double-probe STM)
7th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, . 2003年11月16日-2003年11月20日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-22 22:32:11 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:51:58 +0900