HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Electrical Measurement of Nanowires by Double-Scanning-Probe Tunneling Microscope)久保 理, 新ヶ谷 義隆, 富本 博之, 青野 正和, 中山 知信. The 16th International Microscopy Congress. 2006.NIMS著者新ヶ谷 義隆青野 正和中山 知信Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-25 01:14:09 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:39:20 +0900