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著者名福田 清貴, 尾沼猛儀, サン リウエン, 山口智広, 本田徹, 角谷 正友.
タイトル光熱偏向分法による 光熱偏向分法による Ga 1-xIn xN薄膜の評価
(Evaluation of Ga1-xIn xN thin films by photothermal deflection spectroscopy)
会議名第78回応用物理学会秋季学術講演会
発表年2017
言語Japanese
外部での文献参照

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