HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Si/SiGeヘテロ界面に存在するミスフィット転位の微細構造と偏析(Microstructure and Segregation of Misfit dislocation in Si/SiGe hetero interface)井 誠一郎, 池田賢一, 中島英治, 中島寛. 日本金属学会 2008年春期講演大会. 2008.NIMS著者井 誠一郎Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-14 10:57:58 +0900 更新時刻 :2017-07-10 20:25:05 +0900