HOME > 口頭発表 > 書誌詳細カンチレバーを用いた高分子薄膜のヤング率測定(Youngs modulus of organic thin film measured by cantilever sensors.)中村明子. 第51回材料工学連合講演会. 2007年11月27日-2007年11月29日.NIMS著者板倉 明子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 12:00:17 +0900更新時刻: 2022-09-05 12:00:17 +0900