中性子・X 線小角散乱及び3 次元アトムプローブによるCu-Ni-Si 合金中析出相の解析
(Characterization of precipitated phase in Cu-Ni-Si alloy by small angle neutron scattering, small angle x-ray scattering, and atom probe tomography)
第82回日本顕微鏡学会学術講演会. 2026年05月25日-2026年05月27日.
NIMS著者
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作成時刻: 2026-05-29 03:06:52 +0900 更新時刻: 2026-05-29 03:06:52 +0900