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オペランド顕微分光法を用いたGaN-HEMTにおける電流コラプス現象の発生機構に関する研究
(Study on the mechanism of current collapse in GaN-HEMT using the operando microspectroscopy)
2017年第64回応用物理学会春季学術講演会. 2017.
NIMS author(s)
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Created at: 2017-02-19 04:38:12 +0900Updated at: 2017-07-10 22:34:53 +0900