HOME > 口頭発表 > 書誌詳細SiおよびGeナノワイヤへのPおよびB原子のドーピングと状態評価(Impurity doping and characterization of boron and phosphorus atoms in silicon and germanium nanowires)深田 直樹. Australian-NIMS Workshop. 2012. 招待講演NIMS著者深田 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:16:30 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:43:59 +0900