HOME > Presentation > DetailMOCVD成膜したMoS2極小単一粒のデバイス特性評価(Device characterization of ultra small MoS2 single grain grown by MOCVD)渥美 圭脩, 李 曙紅, 西村 知紀, 金橋 魁利, 佐久間 芳樹, 長汐 晃輔. 第72回応用物理学会春季学術講演会. March 14, 2025-March 17, 2025.NIMS author(s)SAKUMA, YoshikiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2025-05-23 03:07:37 +0900 Updated at: 2025-05-23 03:07:37 +0900