HOME > Presentation > Detail放射線X線CTによる電子デバイスの信頼性解析 :積層セラミックコンデンサ(MLCC)の電極構造形成プロセス大熊 学, 若井 史博. 粉体粉末冶金協会2023年度秋季大会(第132回講演大会). October 19, 2023-October 20, 2023. InvitedNIMS author(s)OKUMA, GakuFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2023-10-27 03:13:54 +0900 Updated at: 2024-01-09 03:09:32 +0900