HOME > 口頭発表 > 書誌詳細強磁場極低温STMによるナノ表面計測(Surface nano characterization using low temperature STM in high megnetic fields)鷺坂 恵介. 平成25年度顕微鏡学会走査型プローブ顕微鏡分科会オープン研究会&文. 2014. 招待講演NIMS著者鷺坂 恵介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 10:51:56 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:45:03 +0900