HOME > Presentation > Detail強磁場極低温STMによるナノ表面計測(Surface nano characterization using low temperature STM in high megnetic fields)鷺坂 恵介. 平成25年度顕微鏡学会走査型プローブ顕微鏡分科会オープン研究会&文. 2014-03-20. InvitedNIMS author(s)SAGISAKA, KeisukeFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 10:51:56 +0900 Updated at: 2024-03-05 11:45:03 +0900