楔形試料による反射電子、透過電子の厚み依存性
(Thickness dependence of secondary, backscattered, and transmitted electrons using a wedge-shaped sample)
第82回日本顕微鏡学会学術講演会. 2026年05月25日-2026年05月27日.
NIMS著者
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作成時刻: 2026-05-29 03:06:52 +0900 更新時刻: 2026-05-29 03:06:52 +0900