HOME > 公開特許出願 > 書誌詳細[公開特許出願] 半導体層と絶縁体層との界面特性の測定方法2020-02-27. 特開2020031171号 (Google Patents) , 特許7083112号NIMS著者生田目 俊秀作成時刻 :2023-07-22 21:46:01 +0900 更新時刻 :2023-07-22 21:46:01 +0900
