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PRECIPITATION OF XE IONS IN BORON CRYSTALS STUDIED WITH ANALYTICAL TEM
(硼素結晶に埋められているXe析出物の分析電子顕微鏡法による解析)

HASEGAWA, Akira, チュー　フーミン, MITSUISHI, Kazutaka, FURUYA, Kazuo, 保田英洋, NODA, Tetsuji.
Proceedings of 15th International Congress on Electron Microscopy 757-758. 2002.

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

    作成時刻: 2022-09-05 11:18:34 +0900 更新時刻: 2022-09-05 11:18:34 +0900

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