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NIMS Awardシンポジウム2026

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Improvement in signal to background ratio for ultra trace analysis by total-reflection X-ray fluorescence: Reducing parasitic X-
(全反射蛍光X線分析法による超微量分析における信号対バックグラウンド比の改善:実験ハッチ近傍の大気浮遊粒子に起因する寄生的なX線の)

SAKURAI, Kenji, 江場宏美.

NIMS著者


    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


      作成時刻: 2022-09-05 11:00:59 +0900 更新時刻: 2022-09-05 11:00:59 +0900

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