HOME > その他の文献 > 書誌詳細 Electron Channeling Contrast Imaging: A Powerful Technique to Quantitative Microstructure Characterization in the SEMIvan Gutierrez-Urrutia. Microscopy 64 [suppl 1] i32.1-i32. 2015.https://doi.org/10.1093/jmicro/dfv114 NIMS著者グティエレス ウルティア イヴァンMaterials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2020-11-20 10:41:34 +0900更新時刻: 2024-04-01 21:18:49 +0900
