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近接場光プローブ顕微鏡における国際標準化作業の進展
(International Standardization in Scanning Probe Microscopy which use Evanescent Field)

三井 正, 井藤 浩志.
表面と真空 68 [1] 20-25. 2025.

NIMS著者


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      作成時刻: 2025-05-14 15:03:50 +0900 更新時刻: 2026-09-12 04:32:41 +0900

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