アクティブ操作と融合した走査トンネル顕微鏡ナノ計測技術の展開
(Recent Development od Active Nano-Characterization Technology Using Scanning Tunneling Microscopy)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2022-09-05 11:36:58 +0900更新時刻: 2022-09-05 11:36:58 +0900