HOME > その他の文献 > 書誌詳細Characterization of zinc oxide single crystal for epitaxial wafer applications(酸化亜鉛ウエファーのエピタキシャル基板としての評価)OHASHI, Naoki, OGAKI, Takeshi, SUGIMURA, Shigeaki, MAEDA, Katsumi, SAKAGUCHI, Isao, RYOKEN, Haruki, 新倉郁生, 佐藤充, HANEDA, Hajime. Proceeding of Materials Reserch Society . 2004.NIMS著者大橋 直樹大垣 武坂口 勲羽田 肇Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 11:27:18 +0900更新時刻: 2022-09-05 11:27:18 +0900
