HOME > その他の文献 > 書誌詳細多結晶体中の結晶粒子の方位分布観察 ―集束Ｘ線を用いた走査型Ｘ線回折顕微鏡／粉末Ｘ線回折計―雪野健, 大庭茂樹, 和田壽璋. 理学電機ジャーナル 8. 1994.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 10:42:09 +0900 更新時刻: 2022-09-05 10:42:09 +0900
