HOME > Misc > Detail多結晶体中の結晶粒子の方位分布観察 ―集束Ｘ線を用いた走査型Ｘ線回折顕微鏡／粉末Ｘ線回折計―雪野健, 大庭茂樹, 和田壽璋. 理学電機ジャーナル 8. 1994.NIMS author(s)Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2022-09-05 10:42:09 +0900 Updated at: 2022-09-05 10:42:09 +0900
