走査型トンネル顕微鏡を用いた単一半導体ナノ構造の物性研究
(Study of optical and electronic properties of individual semiconductor nanostructures using scanning tunneling microscope)
| 著者 | 鶴岡 徹. |
|---|---|
| 掲載誌名 | Japan Nanonet Bulletin [70] 2-2 |
| 出版社 | |
| 出版年 | 2004 |
| 言語 | Japanese |