In situ electrical measurements and manipulation of B/N-dopped C nanotubes in a high-resolution transmission electron microscope
(Cをド－プしたBNナノチューブのTEMによる電気特性評価)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2020-11-20 10:40:32 +0900 更新時刻: 2020-11-20 10:40:32 +0900