HOME > 論文 > 書誌詳細Grain boundary analysis of silicon nitrides by 400KV analytical electron microscopyBANDO, Yoshio, 三友護, 北見喜三. Journal of Electron Microscopy 371. 1986.NIMS著者板東 義雄Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 10:28:13 +0900 更新時刻: 2022-09-05 10:28:13 +0900
