Direct observation of electron capture and emission processes by the time domain charge pumping measurement of MoS2 FET
著者 | Koki Taniguchi, Nan Fang, Kosuke Nagashio. |
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掲載誌名 | Applied Physics Letters 113 [13] 133505 ISSN: 00036951, 10773118 ESIでのカテゴリ: PHYSICS |
出版社 | AIP Publishing |
発表年 | 2018 |
言語 | English |
DOI | https://doi.org/10.1063/1.5048099 |
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