Direct observation of electron capture and emission processes by the time domain charge pumping measurement of MoS2 FET

著者	Koki Taniguchi, Nan Fang, Kosuke Nagashio.
掲載誌名	Applied Physics Letters 113 [13] 133505 ISSN: 00036951, 10773118 ESIでのカテゴリ: PHYSICS
出版社	AIP Publishing
発表年	2018
言語	English
DOI	https://doi.org/10.1063/1.5048099
この文献をMendeleyにインポート