HOME > 論文 > 書誌詳細Characterization of amorphous and crystalline silicon nanoclusters in ultra thin silica layers(超薄シリカ膜中のアモルファスおよび結晶質シリコンナノクラスターの分析)Annett Thogersen, Jeyanthinath Mayandi, Terje G. Finstad, Arne Olsen, Jens Sherman Christensen, Masanori Mitome, Yoshio Bando. Journal of Applied Physics 104 [9] 094315. 2008.https://doi.org/10.1063/1.3014195 NIMS著者三留 正則板東 義雄Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 15:37:44 +0900更新時刻: 2024-03-29 19:10:22 +0900