X線逆格子イメージング法によるナノ材料の迅速評価
(Rapid Characterization of a Nanomaterial Structure Using X-ray Reciprocal-lattice-space Imaging)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2016-05-24 15:08:51 +0900 更新時刻: 2018-12-14 23:37:33 +0900