SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 論文 > 書誌詳細

Optical characterization of individual semiconductor nanostructures using scanning tunneling microscope

Journal of Electron Microscopy 53 [2] 169-175. 2004.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2016-05-24 14:37:40 +0900更新時刻: 2024-04-01 20:50:08 +0900

    ▲ページトップへ移動