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著者名Chuan Liu, Gongtan Li, Riccardo Di Pietro, Jie Huang, Yong-Young Noh, Xuying Liu, Takeo Minari.
タイトルDevice Physics of Contact Issues for the Overestimation and Underestimation of Carrier Mobility in Field-Effect Transistors
掲載誌名Physical Review Applied 8 [3]
ISSN: 23317019
発表年2017
言語English
ESIでのカテゴリ
DOIhttps://doi.org/10.1103/physrevapplied.8.034020
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