HOME > 論文 > 書誌詳細SIMS DEPTH PROFILING OF N AND In IN ZnO SINGLE CRYSTAL(酸化亜鉛単結晶中の窒素のインジウムのSIMSの深さ方向プロファイル)PARK, Daechul, HANEDA, Hajime, OHASHI, Naoki, HISHITA, Shunichi, HANEDA Hajime. APPLIED SURFACE SCIENCE 203 [15] 359-362. 2003.NIMS著者大橋 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 11:55:55 +0900 更新時刻: 2018-12-15 00:48:42 +0900
