Electrode structures in diode-type cadmium telluride detectors Field emission scanning electron microscopy and energy-dispersive x-ray microanalysis | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

HOME > 論文 > 書誌詳細

Electrode structures in diode-type cadmium telluride detectors Field emission scanning electron microscopy and energy-dispersive x-ray microanalysis
(走査電子顕微鏡およびX線マイクロ分析によるダイオード型CdTe検出器の電極構造の解析)

Kyoko Okada, Hideyuki Yasufuku, Hideki Yoshikawa, Yoshiharu Sakurai.

Applied Physics Letters 92 [7] 073501. 2008.

https://doi.org/10.1063/1.2825565

NIMS著者

吉川英樹

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2016-05-24 15:27:17 +0900更新時刻: 2024-04-01 18:59:04 +0900

▲ページトップへ移動