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Deep levels in homoepitaxial boron-doped diamond films studied by capacitance transient spectroscopies

P. Muret, J. Pernot, TERAJI, Tokuyuki, T. Ito.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2022-10-21 22:33:49 +0900更新時刻: 2022-10-21 22:33:49 +0900

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