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著者名Yoshiyuki Yamashita, Hideki Yoshikawa, Toyohiro Chikyo, Keisuke Kobayashi.
タイトルNew Direct Spectroscopic Method for Determination of Bias-Dependent Electronic States: Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy Under Device Operation
掲載誌名Japanese Journal of Applied Physics 52 [10R] 108005
ISSN: 13474065 00214922
発表年2013
言語English
ESIでのカテゴリPHYSICS
DOIhttps://doi.org/10.7567/jjap.52.108005
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