HOME > 論文 > 書誌詳細Microtomagraphy Using Conventional X-ray Sources.(通常Ｘ線源を用いた顕微断層撮影.)YAMAUCHI, Yasushi, 岸本直樹, 生田孝. Nondestructive Characterization of Materials Ⅵ 129-136. 1994.NIMS著者山内 泰Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-11-15 00:38:59 +0900更新時刻: 2022-11-15 00:38:59 +0900
