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著者名M. Imura, S. Tsuda, T. Nagata, H. Takeda, M. Y. Liao, A. L. Yang, Y. Yamashita, H. Yoshikawa, Y. Koide, K. Kobayashi, T. Yamaguchi, M. Kaneko, N. Uematsu, K. Wang, T. Araki, Y. Nanishi.
タイトルImpact of Mg concentration on energy-band-depth profile of Mg-doped InN epilayers analyzed by hard X-ray photoelectron spectroscopy
掲載誌名Applied Physics Letters 103 [16] 162110
ISSN: 00036951 10773118
発表年2013
言語English
ESIでのカテゴリPHYSICS
DOIhttps://doi.org/10.1063/1.4826094
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