Cross-Sectional Transmission Electron Microscope Studies of Artificially Layered Bi-Sr-Ca-Cu-O Films. | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

HOME > 論文 > 書誌詳細

Cross-Sectional Transmission Electron Microscope Studies of Artificially Layered Bi-Sr-Ca-Cu-O Films.
(人工的に合成したBi-Sr-CA-Cu-Oの薄膜の断面透過電顕観察.)

池田省三, 佐藤淳一, 中村恵吉, 池田省三, 佐藤淳一, 中村恵吉.

Japanese Journal of Applied Physics 28 [8] . 1989.

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2016-05-24 11:31:03 +0900更新時刻: 2018-12-14 23:30:46 +0900

▲ページトップへ移動