HOME > 論文 > 書誌詳細Ｘ線反射率法による固液界面分析(Analysis of Solid-Liquid Interface by X-Ray Reflectometry)櫻井 健次. トライボロジスト 55 [4] 260-266. 2010.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 16:02:14 +0900 更新時刻: 2018-05-30 19:14:15 +0900
