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Layer-specific hole concentrations in Bi2Sr2(Y1–xCax)Cu2O8 + as probed by XANES spectroscopy and coulometric redox analysi
(X線吸収端分光法と電気滴定法によるBi-2212相の各層のホール量)

M. Karppinen, M. Kotiranta, T. Nakane, H. Yamauchi, S. C. Chang, R. S. Liu, J. M. Chen.

Physical Review B 67 [13] 134522. 2003.

https://doi.org/10.1103/physrevb.67.134522

NIMS著者

中根茂行

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2016-05-24 11:59:33 +0900 更新時刻: 2026-10-30 04:18:37 +0900

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