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著者名Chuan Liu, Yong Xu, Yun Li, William Scheideler, Takeo Minari.
タイトルCritical Impact of Gate Dielectric Interfaces on the Contact Resistance of High-Performance Organic Field-Effect Transistors
掲載誌名The Journal of Physical Chemistry C 117 [23] 12337-12345
ISSN: 19327455 19327447
発表年2013
言語English
ESIでのカテゴリPHYSICS
DOIhttps://doi.org/10.1021/jp4023844
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