HOME > 論文 > 書誌詳細Non-destructive Depth Analysis of SiO2/Si Using The Synchrotron Radiation(放射光を用いたSiO2/Siの非破壊深さ分析)木村昌弘, YOSHIKAWA, Hideki, VLAICU Aurel Mihai, 田中彰博, 木田義輝, 渡邊勝巳, 二澤宏司, 八木信弘, 奥井眞人, 田口雅美, 大岩烈, FUKUSHIMA, Sei, 木村昌弘, VLAICU Aurel Mihai, 田中彰博, 木田義輝, 渡邊勝巳, 二澤宏司, 八木信弘, 奥井眞人, 田口雅美, 大岩烈. Surface Analysis Society of Japan . .NIMS著者吉川 英樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-11-15 00:40:20 +0900更新時刻: 2022-11-15 00:40:20 +0900
